高壓(High-Potential)測試是一種非常通用的測試手段，可以用于各種不同的應用場景。從研究、開發和型式試驗，到下線安全結構測試，甚至包括維修后的檢測。

    本文主要介紹兩種最常見的Hipot測試類型的區別，分別是耐壓測試和擊穿測試。

    原理上，這兩種測試施加于DUT(被測物)的作用幾乎是一樣的，然而測試的結果往往不同。

    Hipot測試通常包含2個測試端口，一個電壓源輸出端和一個回流端，測試回路中有泄露電流流過，被測試儀器測量出來。

    耐壓測試

    耐壓測試是最常見的hipot測試類型。它包括施加一個預設好的電壓，通常是1000V或者更高。

    測試(輸出)電壓作用于被測物的時間稱為持續時間(Holdtime)，時間長短視具體應用而定，從型式試驗的幾分鐘到產線(常規)測試的幾秒鐘。

    通常，測試結果是通過還是失敗，取決于測量到的泄露電流的大小。如果泄露電流過大(超過設定好的觸發電流)，則測試失敗并中止。

    泄露電流的幅值通常在mA量級，測試開始前一般會設定泄露電流的閾值，來判定測試通過與否。同樣的，泄露電流的上限值設定為多少，取決于不同的應用。對型式試驗而言，泄露電流上限值多在100mA以內，測試是在更可控的實驗室環境進行的。當在產線進行測試時，限值通常低得多以確保測試人員的安全，對于某些被測物，5mA以內是可以接受的。

    這類測試通常不具有破壞性，除非被測物原本已經有絕緣不良處，所以它是生產環境中常用的測試類型。然而，作為型式試驗的一部分，更長的測試時間可能弱化絕緣材料的完整性。因此，進行過型式試驗的的產品通常被認為不適合出售。

    擊穿測試

    擊穿測試也是按上述的方法進行的，然而，在這種特定測試中，是不設定電壓上限的，并且通常沒有持續時間。

    擊穿測試中，電壓逐漸升高，直到被測物的絕緣性不再能承受這么高的電壓并被擊穿。這個電壓值就是絕緣體變成導電體的一個臨界電壓。

    這個實例中的核心參數是擊穿出現時被記錄下來的電壓值。

    如上所述，這類測試是屬于破壞性試驗，目的是迫使DUT達到擊穿點。因此，此類測試只在研發環境中進行，不適用于常規測試，它會使被測物出于不安全狀態。

    結論

    可以看出，這兩種測試方法在確定產品整體安全性方面都占有一席之地，然而需要有正確的時間和地點來進行這些測試?？紤]到這一點，很容易就明白為什么擊穿測試只適用于研發場景，而對于被測物在測試完依然按預期使用的情況，耐壓測試用于證明產品的安全性更為合適。

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